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檢測項:顆粒碰撞噪聲檢測 檢測樣品:半導體分立器件失效分析 標準:GJB 3157-1998 半導體分立器件失效分析方法和程序
檢測項:顆粒碰撞噪聲檢測 檢測樣品:半導體分立器件失效分析 標準:GJB 3157-1998 半導體分立器件失效分析方法和程序
機構所在地:河北省石家莊市
檢測項:**部分參數 檢測樣品:醫(yī)用電氣設備(環(huán)境試驗) 標準:醫(yī)用電器環(huán)境要求及試驗方法GB/T 14710-2009
機構所在地:北京市
檢測項:碰撞試驗 檢測樣品:**集成電路(IC)卡讀寫機 標準:《集成電路(IC)卡讀寫機通用規(guī)范》GB/T18239-2000
機構所在地:北京市